УДК 004.932.2
В статье приводится описание функциональной модели системы неразрушающего рентгеновского контроля, отличающейся применением методов обработки рентгеновских изображений и обеспечивающей формирование единого рентгеновского мультиизображения изделия микроэлектроники с неоднородной структурой требуемого качества для всех элементов.
The description of functional model of system of nondestructive x-ray control characterized by the use of methods of x-ray image processing and providing formation of the common x-ray multiimage of microelectronics product with non-uniform structure of the demanded quality for all elements is provided in this article.